Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
   volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 1 van 15 gevonden artikelen
 
 
  An attempt to explain thermally induced soft failures during low level ESD stresses: study of the differences between soft and hard NMOS failures
 
 
Titel: An attempt to explain thermally induced soft failures during low level ESD stresses: study of the differences between soft and hard NMOS failures
Auteur: Salome, P.
Leroux, C.
Mariolle, D.
Lafond, D.
Chante, J.P.
Crevel, P.
Reimbold, G.
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 38 (1998) nr. 11 pagina's 10 p.
Jaar: 1998
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Science Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 1 van 15 gevonden artikelen
 
   volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland