|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Breakdown properties of thin oxides in irradiated MOS capacitors |
| Auteur: |
Brozek, T. Pešić, B. Jakubowski, A. Stojadinović, N. |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 33 (1993) nr. 5 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
1993 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |