Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 52 van 157 gevonden artikelen
 
 
  Estimation of reliability in multi-component stress-strength model following a Burr distribution
 
 
Titel: Estimation of reliability in multi-component stress-strength model following a Burr distribution
Auteur: Pandey, M.
Borhan Uddin, Md.
Verschenen in: Microelectronics reliability
Paginering: Jaargang 31 (1991) nr. 1 pagina's 5 p.
Jaar: 1991
Inhoud:
Uitgever: Published by Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 52 van 157 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland