|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 8 gevonden artikelen
| Titel: |
Study of the single-event burnout triggering criteria and hardening of the 550 V SOI lateral-IGBT |
| Auteur: |
Wu, Wangran Qian, Yiwen Yang, Jing Yang, Guangan Liu, Qi Xia, Xiaojuan Zhang, Long Sun, Weifeng |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 130 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 8 gevonden artikelen
| << vorige |