|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Radiation induced soft errors in 16 nm floating gate SLC NAND flash memory |
| Auteur: |
Chandrashekhar, Sandhya Puchner, Helmut Mitani, Jun Shinozaki, Satoshi Sardi, Mohamed Hoffman, David |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 108 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |