|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Evaluation of ISO 26262 and IEC 61508 metrics for transient faults of a multi-processor system-on-chip through radiation testing |
| Auteur: |
Ballan, Oscar Maillard, Pierre Arver, Jue Smith, Christina Petersson, Roland Griessing, Alexander Venini, Federico |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 107 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |