|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Simulation study of single event effects in the SiC LDMOS with a step compound drift region |
| Auteur: |
Bao, Meng-tian Wang, Ying Li, Xing-ji Liu, Chao-ming Yu, Cheng-hao Cao, Fei |
| Verschenen in: |
Microelectronics reliability |
| Paginering: | Jaargang 91 (2018) nr. P1 pagina's 170-178 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |