|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
80ns/45GHz Pulsed measurement system for DC and RF characterization of high speed microwave devices |
| Auteur: |
Weiß, Mario Fregonese, Sébastien Santorelli, Marco Sahoo, Amit Kumar Maneux, Cristell Zimmer, Thomas |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 84 (2013) nr. C pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |