|
The improvement of nitrogen doped Ge2Sb2Te5 on the phase change memory resistance distributions |
|
|
|
Titel: |
The improvement of nitrogen doped Ge2Sb2Te5 on the phase change memory resistance distributions |
Auteur: |
Xu, Zhen Liu, Bo Chen, Yifeng Zhang, Zhonghua Gao, Dan Wang, Heng Song, Zhitang Wang, Changzhou Ren, Jiadong Zhu, Nanfei Xiang, Yanghui Zhan, Yipeng Feng, Songlin |
Verschenen in: |
Solid-state electronics |
Paginering: |
Jaargang 116 (2016) nr. C pagina's 5 p. |
Jaar: |
2016 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier Ltd |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|