|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 35 van 46 gevonden artikelen
| Titel: |
Simultaneous measurement of layer thicknesses in thin layered materials using the phase of ultrasonic reflection coefficient spectrum |
| Auteur: |
Geng, Xiangwei Zhang, Chengcheng Zhang, Jian Luo, Guoqiang Shen, Qiang |
| Verschenen in: |
Applied acoustics |
| Paginering: | Jaargang 195 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 35 van 46 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |